Charakterystyka dwuwarstw TiN i MgO osadzanych metodą PLD na miedzi stosowanych jako podłoża na taśmy nadprzewodzące drugiej generacji
Data obrony:
24.09.2018
Autor:
Grzegorz Szwachta
Tytuł:
Charakterystyka dwuwarstw TiN i MgO osadzanych metodą PLD na miedzi stosowanych jako podłoża na taśmy nadprzewodzące drugiej generacji